GB/T 4676-2018普通磨料 取样方法
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4676-2018 采 中文标准名称：普通磨料 取样方法 英文标准名称：Abrasive grains—Sampling and splitting
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GB/T 4678.12-2018压铸模 零件 第12部分：复位杆
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4678.12-2018 中文标准名称：压铸模 零件 第12部分：复位杆 英文标准名称：Die casting dies—Components—Part 12: Retu
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GB/T 4678.13-2018压铸模 零件 第13部分：推板垫圈
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4678.13-2018 中文标准名称：压铸模 零件 第13部分：推板垫圈 英文标准名称：Die casting dies—Components—Part 13: Ej
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GB/T 4937.11-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.11-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法 英文标准名称：Semicond
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GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.12-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动 英文标准名称：Semiconductor devices
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GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.13-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾 英文标准名称：Semiconductor devices—Me
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GB/T 4937.14-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度（引线牢固性）
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.14-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度（引线牢固性） 英文标准名称：Semicondu
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GB/T 4937.15-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.15-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热 英文标准名称：Semicon
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GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.17-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照 英文标准名称：Semiconductor devices
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GB/T 4937.18-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量)
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.18-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量) 英文标准名称：Semiconductor
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