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光学小角散射测试实验

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更新时间:2025-05-18  /
咨询工程师

信息概要

光学小角散射测试(SAXS)是一种用于分析材料微观结构的非破坏性检测技术,通过测量样品在极低角度范围内的散射信号,可获取纳米至亚微米尺度下的结构信息。此类检测广泛应用于材料科学、生物医药、高分子化学等领域,对产品的质量控制、性能优化及研发创新具有关键作用。第三方检测机构通过设备与标准化流程,确保检测结果的准确性与可靠性,助力企业提升产品竞争力。

检测项目

  • 散射强度分布分析
  • 纳米颗粒尺寸分布
  • 材料孔隙率测定
  • 微观结构均匀性评估
  • 分散体系稳定性分析
  • 结晶度与取向性检测
  • 比表面积计算
  • 粒子形状及形貌表征
  • 界面层厚度测量
  • 胶体体系聚集状态分析
  • 薄膜厚度与密度分布
  • 复合材料相分离研究
  • 分子链构象解析
  • 动态结构演变监测
  • 表面粗糙度参数提取
  • 多孔材料孔径分布
  • 纳米复合材料界面特性
  • 生物分子自组装行为研究
  • 聚合物分子量分布推算
  • 微观缺陷与应力分析

检测范围

  • 纳米颗粒分散液
  • 高分子聚合物
  • 金属有机框架材料
  • 胶体体系
  • 多孔催化剂
  • 生物大分子溶液
  • 药物递送载体
  • 液晶材料
  • 功能涂层薄膜
  • 碳基复合材料
  • 陶瓷前驱体溶胶
  • 蛋白质聚集体系
  • 纳米纤维材料
  • 量子点溶液
  • 脂质体悬浮液
  • 气凝胶材料
  • 磁性纳米颗粒
  • 水凝胶网络结构
  • 无机-有机杂化材料
  • 半导体纳米线阵列

检测方法

  • 小角X射线散射法(SAXS):通过X射线在低角度散射信号分析纳米结构
  • 动态光散射法(DLS):测量粒子布朗运动推算粒径分布
  • 静态光散射法(SLS):基于散射光强计算分子量及尺寸
  • 广角X射线散射法(WAXS):补充分析晶体结构信息
  • 中子小角散射法(SANS):利用中子穿透性检测厚样品微观结构
  • 同步辐射SAXS:采用高亮度光源提升检测灵敏度
  • 原位SAXS:实时监测材料动态变化过程
  • 温度梯度SAXS:研究材料热响应行为
  • 掠入射SAXS(GISAXS):专用于薄膜表面结构分析
  • 多波长散射分析:增强复杂体系解析能力
  • 偏振光散射法:检测各向异性材料取向
  • 荧光关联光谱法:结合荧光标记分析特定组分
  • 电子密度对比法:定量计算分散相体积分数
  • 分形维数计算:评估不规则结构自相似特性
  • 模型拟合反演法:通过理论模型解析散射数据

检测仪器

  • 小角X射线散射仪
  • 动态光散射仪
  • 同步辐射光源装置
  • 中子散射谱仪
  • 广角X射线衍射仪
  • 静态光散射检测系统
  • 高温原位样品台
  • 低温样品恒温控制器
  • 真空散射样品室
  • 三维探测器阵列
  • 偏振光调制组件
  • 多通道光子计数器
  • 高精度角度校准仪
  • 纳米颗粒分散度分析模块
  • 实时数据采集处理系统

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