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    PAN原丝取向度XRD检测

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    2025-06-11  -  PAN原丝取向度XRD检测是一种通过X射线衍射技术测定聚丙烯腈(PAN)原丝分子取向度的分析方法。该检测对于评估PAN原丝的力学性能、热稳定性以及后续碳纤维产品的质量至关重要。通过精确测定取向度,可以优化生产工艺,提升产品性能,满足航空航天、汽车制造、体育器材等领域的高标准需求。

    锰酸锂晶格塌陷温度测试(XRD原位)

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    2025-06-10  -  锰酸锂晶格塌陷温度测试(XRD原位)是一种通过X射线衍射技术实时监测锰酸锂材料在高温环境下晶格结构变化的检测方法。该测试对于评估锰酸锂材料的热稳定性、结构完整性以及在实际应用中的性能表现具有重要意义。通过检测晶格塌陷温度,可以为材料研发、生产工艺优化以及电池安全性评估提供关键数据支持。

    原位XRD检测

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    2025-06-05  -  原位XRD检测是一种先进的材料分析技术,能够在材料实际工作条件下实时监测其晶体结构变化。该技术广泛应用于能源材料、催化剂、电池、薄膜等领域的研究与开发。通过原位XRD检测,可以获取材料在高温、高压、气氛变化等复杂环境下的结构演变信息,为材料性能优化和工艺改进提供科学依据。

    薄膜xrd检测

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    2025-02-27  -  哪家单位可以做薄膜xrd检测?中析研究所实验室提供薄膜xrd检测服务,检测样品:硅基薄膜,氮化镓薄膜,氧化锌薄膜,二氧化钛薄膜,氧化铟锡薄膜(ITO)。检测项目:物相分析,结晶度测定,残余应力分析,晶粒尺寸计算,薄膜厚度测定,择优取向分析。

    XRD图谱分析

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    2022-08-19  -  实验室提供XRD图谱分析服务,7-15个工作日出具检测报告,报告支持扫码查询真伪,国家高新技术企业,检测资质齐全,实验室仪器先进,科研团队强大,一直秉着研发贡献精神服务客户,全国多家实验室分支,支持上门取样/寄样检测服务,真正的一站式检测服务。

    GB/T 36655-2018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

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    2019-12-09  -   标准号:GB/T 36655-2018 中文标准名称:电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法 英文标准名称:Test me

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