BB电子

gb咨询电话:400-635-0567
为您找到相关结果 24400 条

GB/T 17737.200-2018同轴通信电缆 第1-200部分:环境试验方法 通用要求

GB/T 17737.200-2018同轴通信电缆 第1-200部分:环境试验方法 通用要求

2019-12-13  -   标准号:GB/T 17737.200-2018 采 中文标准名称:同轴通信电缆 第1-200部分:环境试验方法 通用要求 英文标准名称:Coaxial communicatio

GB/T 17737.115-2018同轴通信电缆 第1-115部分:电气试验方法 阻抗均匀性(脉冲/阶跃函数回波损耗)试验

GB/T 17737.115-2018同轴通信电缆 第1-115部分:电气试验方法 阻抗均匀性(脉冲/阶跃函数回波损耗)试验

2019-12-13  -   标准号:GB/T 17737.115-2018 采 中文标准名称:同轴通信电缆 第1-115部分:电气试验方法 阻抗均匀性(脉冲/阶跃函数回波损耗)试验 英

GB/T 22319.11-2018石英晶体元件参数的测量 第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法

GB/T 22319.11-2018石英晶体元件参数的测量 第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法

2019-12-13  -   标准号:GB/T 22319.11-2018 采 中文标准名称:石英晶体元件参数的测量 第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法

GB/T 11313.15-2018射频连接器 第15部分:外导体内径为4.13mm(0.163in)、特性阻抗为50Ω、螺纹连接的射频同轴连接器(SMA型)

GB/T 11313.15-2018射频连接器 第15部分:外导体内径为4.13mm(0.163in)、特性阻抗为50Ω、螺纹连接的射频同轴连接器(SMA型)

2019-12-13  -   标准号:GB/T 11313.15-2018 采 中文标准名称:射频连接器 第15部分:外导体内径为4.13mm(0.163in)、特性阻抗为50Ω、螺纹连接的射频同轴连接器(SMA型)

GB/T 17737.324-2018同轴通信电缆 第1-324部分:机械试验方法 电缆耐磨性试验

GB/T 17737.324-2018同轴通信电缆 第1-324部分:机械试验方法 电缆耐磨性试验

2019-12-13  -   标准号:GB/T 17737.324-2018 采 中文标准名称:同轴通信电缆 第1-324部分:机械试验方法 电缆耐磨性试验 英文标准名称:Coaxial commun

GB/T 17737.308-2018 同轴通信电缆 第1-308部分:机械试验方法 铜包金属的抗拉强度和延伸率试验

GB/T 17737.308-2018 同轴通信电缆 第1-308部分:机械试验方法 铜包金属的抗拉强度和延伸率试验

2019-12-13  -   标准号:GB/T 17737.308-2018 采 中文标准名称:同轴通信电缆 第1-308部分:机械试验方法 铜包金属的抗拉强度和延伸率试验 英文标准名

GB/T 17737.325-2018同轴通信电缆 第1-325部分:机械试验方法 风激振动试验

GB/T 17737.325-2018同轴通信电缆 第1-325部分:机械试验方法 风激振动试验

2019-12-13  -   标准号:GB/T 17737.325-2018 采 中文标准名称:同轴通信电缆 第1-325部分:机械试验方法 风激振动试验 英文标准名称:Coaxial communic

GB/T 35010.8-2018半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式

GB/T 35010.8-2018半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式

2019-12-13  -   标准号:GB/T 35010.8-2018 采 中文标准名称:半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式 英文标准名称:Semiconductor die produc

GB/T 35007-2018半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

GB/T 35007-2018半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

2019-12-13  -   标准号:GB/T 35007-2018 中文标准名称:半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 英文标准名称:Semiconductor integrated circu

GB/T 35006-2018半导体集成电路 电平转换器测试方法

GB/T 35006-2018半导体集成电路 电平转换器测试方法

2019-12-13  -   标准号:GB/T 35006-2018 中文标准名称:半导体集成电路 电平转换器测试方法 英文标准名称:Semiconductor integrated circuits—Mea

中析研究所 - 科研检测中心

中析研究所提供指标检测,成分分析,MSDS报告编写,实验代做,投标竞标检测服务,未知物分析鉴定等各种科研项目。我要了解>>

其他搜索: 船用| 11| 防护服| 核酸检测| 驱蚊| 划痕实验| RPR| 调味料| | 石蜡| 氯菊酯| 焦虑| 压力表| 三唑磷| 显示| 焊接工艺评定| 全氟化合物| 抗压| 竹木纤维板| 磷酸二氢钾|

了解我们: 关于我们>> 联系我们>> 检测流程>> 荣誉资质>>

☎ 400-635-0567

投诉电话:010-82491398

企业邮箱:010@yjsyi.com

地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121

山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼

检测分类 更多>>