GB/T 35010.5-2018半导体芯片产品 第5部分：电学仿真要求
2019-12-13 - 标准号：GB/T 35010.5-2018 采 中文标准名称：半导体芯片产品 第5部分：电学仿真要求 英文标准名称：Semiconductor die products—Part
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GB/T 35003-2018非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
2019-12-13 - 标准号：GB/T 35003-2018 中文标准名称：非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 英文标准名称：Test methods for endurance and data
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GB/T 35002-2018微波电路 频率源测试方法
2019-12-13 - 标准号：GB/T 35002-2018 中文标准名称：微波电路 频率源测试方法 英文标准名称：Microwave circuits—Measuring methods for freque
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GB/T 35001-2018微波电路 噪声源测试方法
2019-12-13 - 标准号：GB/T 35001-2018 中文标准名称：微波电路 噪声源测试方法 英文标准名称：Microwave circuits—Measuring methoels for noise
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GB/T 35005-2018集成电路倒装焊试验方法
2019-12-13 - 标准号：GB/T 35005-2018 中文标准名称：集成电路倒装焊试验方法 英文标准名称：Test methods for flip chip integrated circuits
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GB/T 35011-2018微波电路 压控振荡器测试方法
2019-12-13 - 标准号：GB/T 35011-2018 中文标准名称：微波电路 压控振荡器测试方法 英文标准名称：Microwave circuits—Measuring methods for vo
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GB/T 14028-2018半导体集成电路 模拟开关测试方法
2019-12-13 - 标准号：GB/T 14028-2018 中文标准名称：半导体集成电路 模拟开关测试方法 英文标准名称：Semiconductor integrated circuits—Measu
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GB/T 36079-2018声学 单元并排式阻性消声器传声损失、气流再生噪声和全压损失系数的测定 等效法
2019-12-13 - 标准号：GB/T 36079-2018 中文标准名称：声学 单元并排式阻性消声器传声损失、气流再生噪声和全压损失系数的测定 等效法 英文标准
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GB/T 36081-2018纳米技术 硒化镉量子点纳米晶体表征 荧光发射光谱法
2019-12-13 - 标准号：GB/T 36081-2018 中文标准名称：纳米技术 硒化镉量子点纳米晶体表征 荧光发射光谱法 英文标准名称：Nanotechnology—Charact
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GB/T 36082-2018纳米技术 特定毒性筛查用金纳米颗粒表面表征 傅里叶变换红外光谱法
2019-12-13 - 标准号：GB/T 36082-2018 采 中文标准名称：纳米技术 特定毒性筛查用金纳米颗粒表面表征 傅里叶变换红外光谱法 英文标准名称：Nanotec
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