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中析检测

中位径(D50)测试试验

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咨询量:  
更新时间:2025-05-30  /
咨询工程师

信息概要

中位径(D50)是表征颗粒体系中颗粒大小分布的关键参数,表示样本中50%的颗粒直径小于或等于该值。在粉体材料、药物制剂、化工原料、环境监测等领域,D50测试是评估产品质量、优化生产工艺及满足行业标准的核心检测项目。通过检测D50,企业可精准控制颗粒均匀性、流动性及反应效率,从而确保产品性能稳定,避免因颗粒分布异常导致的资源浪费或应用风险。第三方检测机构依托先进设备和技术,为客户提供科学、的D50测试服务,助力产品质量提升与合规性验证。

检测项目

  • 中位径(D50)
  • 粒径分布宽度(Span值)
  • 平均粒径(D[4,3])
  • 体积平均径(D[3,2])
  • D10粒径
  • D90粒径
  • 颗粒形貌分析
  • 比表面积
  • 孔体积
  • 堆积密度
  • 振实密度
  • 休止角
  • 分散性指数
  • 颗粒团聚度
  • Zeta电位
  • 浊度
  • 沉降速度
  • 吸油值
  • 流动性测定
  • 水分含量
  • pH值
  • 电导率

检测范围

  • 金属粉末
  • 陶瓷粉体
  • 制药颗粒
  • 化妆品粉剂
  • 涂料填料
  • 纳米材料
  • 农药颗粒
  • 食品添加剂
  • 塑料颗粒
  • 水泥粉体
  • 电池材料
  • 催化剂载体
  • 石墨烯粉末
  • 磁性材料
  • 环保吸附剂
  • 染料颜料
  • 矿物粉体
  • 橡胶填料
  • 电子封装材料
  • 生物降解颗粒

检测方法

  • 激光衍射法:利用颗粒对激光的散射特性分析粒径分布
  • 动态光散射法:通过布朗运动测定纳米级颗粒粒径
  • 静态图像分析法:结合显微成像与软件统计颗粒形貌参数
  • 沉降法:基于斯托克斯定律计算颗粒沉降速度
  • 电感应区法(库尔特法):测量颗粒通过微孔时的电阻变化
  • 筛分法:使用标准筛进行分级筛分测定
  • X射线衍射法:分析晶体材料的晶粒尺寸
  • 气体吸附法(BET):测定比表面积及孔隙结构
  • 离心沉降法:加速颗粒沉降以提高测量效率
  • 超声衰减法:分析悬浮液中颗粒的声学响应
  • 显微图像分析法:高分辨率成像结合AI识别技术
  • 库尔特计数器:准确计数并测量单颗粒体积
  • 核磁共振法:研究颗粒表面化学特性
  • 热重分析法:评估颗粒热稳定性及组分
  • 拉曼光谱法:分析颗粒化学成分与结构

检测仪器

  • 激光粒度分析仪
  • 动态光散射仪
  • 扫描电子显微镜
  • 沉降式粒度仪
  • 库尔特计数器
  • X射线衍射仪
  • 比表面及孔隙度分析仪
  • 纳米粒度分析仪
  • 超声粒度分析仪
  • 显微图像分析系统
  • 离心粒度分析仪
  • 电导率仪
  • pH计
  • 热重分析仪
  • 拉曼光谱仪

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