信息概要

ESD（静电放电）失效实验测试是评估电子元器件、组件及系统在静电放电环境下的耐受能力和可靠性的重要手段。静电放电是导致电子设备失效的主要原因之一，因此通过的ESD失效实验测试，可以有效预防产品在实际使用中因静电干扰导致的性能下降或功能失效。第三方检测机构提供的ESD失效实验测试服务，能够帮助企业确保产品符合国际标准（如IEC 61000-4-2）和行业规范，提升产品质量和市场竞争力。

ESD失效实验测试涵盖多种电子产品和组件，包括集成电路、半导体器件、PCB板等。通过模拟实际环境中可能遇到的静电放电场景，测试产品的抗静电能力，并为产品设计和改进提供数据支持。检测机构通过的设备和严格的标准，为客户提供准确、可靠的测试报告，助力产品通过认证并进入目标市场。

检测项目

• 静电放电耐受电压
• 接触放电测试
• 空气放电测试
• ESD敏感度分类
• 失效模式分析
• 放电电流波形测试
• 上升时间测量
• 峰值电流测试
• 能量传输测试
• 重复放电测试
• ESD防护性能评估
• 静电屏蔽效果测试
• 接地电阻测试
• 静电积累测试
• 静电衰减时间测试
• ESD失效阈值测试
• 静电放电路径分析
• 静电放电对信号完整性的影响
• ESD对电磁兼容性的影响
• 静电放电对产品寿命的影响

检测范围

• 集成电路（IC）
• 半导体器件
• 印刷电路板（PCB）
• 电子连接器
• 传感器
• 微处理器
• 存储器
• 电源模块
• 射频器件
• 光电器件
• 显示面板
• 通信设备
• 消费电子产品
• 汽车电子
• 医疗电子设备
• 工业控制设备
• 航空航天电子
• 军用电子设备
• 物联网设备
• 可穿戴设备

检测方法

• 接触放电法：模拟直接接触静电放电的场景
• 空气放电法：模拟非接触式静电放电的场景
• 人体模型（HBM）：模拟人体静电放电对器件的影响
• 机器模型（MM）：模拟机械设备静电放电对器件的影响
• 充电器件模型（CDM）：模拟器件自身带电放电的影响
• 传输线脉冲（TLP）测试：用于分析ESD保护器件的性能
• 非常快速传输线脉冲（VFTLP）测试：用于高频ESD分析
• 系统级ESD测试：评估整个系统的ESD耐受能力
• 静电屏蔽测试：评估屏蔽材料的静电防护效果
• 静电积累测试：测量产品表面静电积累情况
• 静电衰减测试：评估静电消散速度
• 失效分析：通过显微镜或电性测试分析ESD失效原因
• 辐射场测试：评估ESD产生的电磁场对设备的影响
• 传导敏感度测试：评估ESD通过传导路径对设备的影响
• 静电放电波形分析：测量放电电流和电压波形

检测仪器

• ESD模拟器
• 静电放电测试仪
• 传输线脉冲发生器
• 非常快速传输线脉冲发生器
• 静电电压表
• 静电电荷量测试仪
• 静电衰减测试仪
• 接地电阻测试仪
• 示波器
• 频谱分析仪
• 电磁场探头
• 电流探头
• 静电屏蔽测试箱
• 静电积累测试平台
• 失效分析显微镜

了解中析

实验室仪器

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